形状测量激光显微系统

VK-X 系列

广视野的测量

通过 WIDE-Scan 简单 · 高速地实现广视野的测量

问题1

视野狭窄的话,无法明确正在观察哪个部位。还想观察周围。

课题 1

高速高精度 WIDE-Scan 解决

使用 WIDE 的话则可一目了然,不会发生测量部位的错误。

想要提升倍率实现高精度的观察· 测量时,有时会因视野狭窄而不明白正在观察哪个部位。按照对应目标分辨率的倍率使用 WIDE-Scan 的话,则可简单地获取到广视野的高分辨率 3D 图像。之后对观察部位也可做到一目了然。

问题2

关于局部性的测量,会因拍摄部位不同而使数据生成偏差。

课题 2

高速高精度 WIDE-Scan 解决

使用 WIDE 的话,则可一次性测量多个部位并实施平均化处理。

测量数量少的部位时,会因选择不同部位使数值生成偏差。使用 WIDE-Scan 的话,则可简单获取到广视野的高分辨率 3D 图像。能够轻松地测量多个部位,并实施平均化处理,使最终判断不会受到选择部位的影响。

测量系统文库

最近/最多下载的

    • General Catalog Request
    • FA dictionary
    • Trade Shows and Exhibitions
    • eNews Subscribe

    3D测量仪 / 三坐标测量仪 中的更多系列

    测量系统