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高精度测量透明/镜面物体

透明/镜面表面测量结果展示

镜面反射型

LK-G5000 系列包含一组感测头,专为玻璃或其他镜面等高反射物体而设计。感测头包含宽光点和聚焦光点两种等类型,最适合在这些表面上进行高精度测量。感测头包含宽光点和聚焦光点两种等类型,最适合在这些表面上进行高精度测量。

镜面反射型

光点直径 (宽光点型)

光点直径 (宽光点型)

光点直径 (聚焦光点型)

光点直径 (聚焦光点型)

测量触摸屏的缝隙

这些专用感测头中的光学系统已经过优化,可在高反射率的镜面物体上获得最大分辨率。通过进一步改进接收光元件的功能性,现在可稳定测量 20 μm 的缝隙。

测量触摸屏的缝隙

稳定测量粗糙物体

在粗糙物体上进行稳定的测量

宽光点型

看上去平整的表面在放大后就会发现有一些细微的凹凸不平。在使用常规聚焦光点型传感器时,这些细微的表面不平时常会造成测量错误。通过使用宽光点的感测头,就可以均化表面不平整的影响,即使在粗糙物体上也能实现稳定的测量。

宽光点型

光点直径

光点直径

金属表面的测量

金属表面的测量

最大限度地减少粗糙表面的不平整所造成的影响,例如拉丝金属表面和橡胶表面等。以往前所未有的测量精确度现在已成为现实。

圆柱形物镜

得益于 LK-G5000 系列中使用的高级圆柱形物镜,整个测量范围内的光点宽度始终保持一致。这样即使目标距离感测头过近或过远,平分面积始终不变。

精确测量精细物体和轮廓

精确测量精细物体和轮廓

聚焦光点型

同类中最小的光点直径,ø25 μm(LK-H020),可测量从精细部件到轮廓的任何目标物,精确度达到行业最高水准。

聚焦光点型

光点直径

光点直径

测量 IC 阵脚高度

得益于 delta cut 技术,滤光片导致的畸变被降至最低。这些对光学系统的改进意味着光点不仅在RS-CMOS 上聚焦,在目标区域中同样精确聚焦。这样就能实现之前无法完成的高精度轮廓测量。

测量 IC 阵脚高度