表面扫描激光共焦位移计

LT-9000 系列

透明物体厚度测量

为自动化和传感应用提供无与伦比的性能。

透明目标厚度测量

透明目标厚度测量

透明目标厚度测量

LT-9000 系列可测量表面状况、薄膜厚度和透明物体的厚度。其倾斜校正功能可实现更可靠的测量。即使是光盘的中间层也可以准确测量。

测量薄膜厚度

测量薄膜厚度

测量薄膜电阻厚度

LT-9000 系列表面扫描激光共焦位移计可用于测量混合芯片电阻上电阻元件的薄膜厚度。测量分辨率可达 0.3 µm。LT-9000 系列独特的高精度表面扫描法可稳定测量厚度,而不受陶瓷表面材料和电阻元件表面的影响。

透明涂层测量

透明涂层测量

透明涂层测量

LT-9000 系列表面扫描激光共焦位移计可用于测量板上透明涂层的厚度而无需实际接触。测量分辨率可达 0.3 µm。LT-9000 系列独特的高精度表面扫描方法可捕获透明目标的前部和后部表面以测量厚度。此外测量的精度也不会因表面状况或材料而发生变化。

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