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LK-G 系列 CCD激光位移传感器
支持和服务
钢铁加工业更经济的,100%可靠的测量
非接触式测量传感器减少了废料,提供了100%的检测
产品特性

精度、高精度、长距离

创新的CCD激光位移传感器

关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。

超精度 - LK-G10/G15 系列

超精度传感器,重复精度高达0.01µm
超精度 - LK-G10/G15 系列

高精度 - LK-G30/G35 系列

可准确测量透明物体,塑料和金属制品。
高精度 - LK-G30/G35 系列

高稳定性 - LK-G80/G85系列 (多种用途)

新技术在需要长距离测量的情况下为高精度的应用提供了更好的稳定性。
高稳定性 - LK-G80/G85系列 (多种用途)

长距离 - LK-G150/G155 系列

集高精度、长距离和最快的采样速度于一身测量范围∶150 ±40 mm
长距离 - LK-G150/G155 系列

高速、长距离 - LK-G400/G405 系列

集高精度、长距离和最快的采样速度于一身测量范围∶400 ±100 mm
高速、长距离 - LK-G400/G405 系列

超长距离 - LK-G500/G505 系列

高精度、高速、超大范围。传统型号之1.5倍大范围量测:最远达1000mm
超长距离 - LK-G500/G505 系列

50 kHz的超高采样速度

[所有类型: LK-G10/15/30/35/80/85/150/155/400/405/500/505]
比传统型号快25倍的高速采样是Li-CCD的一大特色。由专用波形处理器(数字信号处理器)对发自Li-CCD的信号进行高速数字处理,能够满足高速测量和高精度测量的要求。可以对高速移动,高速转动或高速振动的物体进行可靠的测量。
测量高速旋转中的HDD的表面偏摆。

±0.03%的高精确度

[类型: LK-G10/15]
KEYENCE 对光学系统进行重新设计,以实现高精度的测量。Ernostar 光学系统和Li-CCD 的结合能够产生极为出色的线性特性。
测量硅芯片的厚度

0.01µm※的重复精度

[类型: LK-G10/15]
整合在感测头中的CPU能够把发至控制器的所有信号数字化,大大减少了Noise干扰。高硬度模铸机身是用于减少因温度变化而产生的偏差,而灵敏度是传统型号10倍的Li-CCD可减少信号Noise。这些设计上的改进以高精度应用为目标,成功地使重复精度达到传统型号的20倍。
※ 不受出口限制的机型:重复精度为0.3µm的包括LK-G10H/G15H/G30H/G35H,重复精度为0.6µm的包括LK-G150H/G155H。
控制高精度处理平台的位置

高精度物镜单元

减少像差造成的错误
KEYENCE设计了一种新型的光线接收单元,用于将接收光聚集到Li-CCD 上。该全新研制的高精度Ernostar 物镜极大地减少了因像差所造成的光点扭曲。此外,它还采用了整合感测头和物镜的专用模铸外壳,具有极强的硬度。
高精度Ernostar 物镜的结构图
支持和服务
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激光位移传感器 (1D)

产品目录 说明书 技术指南 CAD数据 3D CAD数据
超高速/ 高精度 CMOS 激光位移传感器 LK-G5000 系列 全新
高速度、高精度CCD激光位移传感器 LK-G 系列 全新
高精确CCD激光位移传感器 LK 系列
類比感測器控制器 LC 系列
高精度激光型 LB-1000 系列
小型激光型 LB-70 系列
模拟信号控制器 RD 系列
产品目录和说明书同时包括感测头和控制器的信息。
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