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工件振动也能稳定测量

工件振动也能稳定测量

高速线材的外径测量

因为进行高速曝光,所以即使工件振动也能切实拍摄目标物,进行正确测量。

高速曝光 CMOS

对于振动工件的误差

16000 次/秒的高速采样

通过将测量CMOS的外围电路单芯片化,大幅提高了S/N比,实现了高速采样。例如,能以约 1 mm的间距测量输送速度为1000 m/分钟的工件。此外,也可稳定测量高速振动的工件。