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| 关于本产品的详细内容，请使用右上方的图标下载目录后确认。 |
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| SI-F80R 系列使用近红外 SLD，可穿过硅、砷化镓、碳化硅、磷化铟、非晶硅及其它半导体。 |
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| 通过减小光点直径和光点内的表面相差，可最大限度的减少晶片表面图案的变化和测量警报的发生次数。 |
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| 产品目录和说明书同时包括感测头和控制器的信息。 |
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