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| 产品规格 |
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SI-F80R 系列分光干涉式晶片厚度计产品规格 |
最佳的性能，最好的规格 |
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| SI-F80R 系列: 晶片厚度测量型 |
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传感头和光谱单元成对校准。两者不可互换。
1. 表示折射率为 3.5 时的厚度测量范围。(折射率为 1 时厚度测量范围为 35 到 1100 μm)
2. 表示测量范围内的最小光束直径。
3. 当测量两块玻璃板间隙并将平均测量次数设为 256 (转换为折射率就是 3.5) 时获得的值。
4. 当在检测距离内测量厚度为 0.3 mm 的玻璃对象并将平均测量次数设为 4096 时获得的值。
5. FDA (CDRH) 的激光分类以 Laser Notice No. 50 和 IEC60825-1 为依据。 |
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| 产品目录和说明书同时包括感测头和控制器的信息。 |
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