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VE-9800 3D 高清晰度电子显微系统
支持和服务
产品特性

高清晰度

无需蒸金等前处理即可观察所有测试材料的最表面部分(无需前期处理 可观察最表面部分)

关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。

无需蒸金等前处理即可观察

使用以往的 SEM 进行观察时需要进行蒸金等前处理,因其会破坏测试材料,所以不能用于观察正在进行评价的试作品。另外,蒸金等前处理可能会导致测试材料变质,有时不能进行正确观察。VE 系列则无需蒸金等前处理就可轻松进行正确观察。
医药品颗粒
医药品颗粒
 
晶片电子零件
晶片电子零件
 
毛纺物
毛纺物
 
复印碳粉
复印碳粉
 

可清晰观察测试材料最表面部分

除可使用高加速电压外,还可使用低加速电压进行观察
使用低能量的电子光束观察测试材料表面,所获得的图像可不受测试材料内部的组成和材质影响,正确再现测试材料表面。被高能量的电子光束消除的细微形状也可清晰捕捉,从而进行更详细的解析。
可清晰观察测试材料最表面部分

将测试材料的损伤降至最小

尽可能抑制变形或对材料的损伤,可进行更正确的观察
用于观察的电子光束的能量很低,所以可以将对测试材料的损伤或变形降至最小。这对怕热和含水分的测试材料观察特别有效,不仅可以详细观察表面形状,也可正确观察其初始状态。
将测试材料的损伤降至最小

“消除带电功能” 可实现非蒸金等前处理的观察

通过除去测试材料所带电荷,可大大提高观察效率
如果要观察的材料是非导体,通过电子光束,测试材料可以会带电。带电会导致观察图像歪曲,显示错误的反差,妨碍正确的观察。VE系列带有消除带电功能,按一个按钮,即可瞬间除去所带电荷,轻松实现非蒸金等前处理,并能观察至最表面部分。
“消除带电功能” 可实现非蒸金等前处理的观察
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