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VK-9700 系列 - 3D 激光扫描显微系统 学习更多...
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紫色激光 实现超高精度测量及分析。		测量和分析 只有激光扫描显微系统才能实现超高精度的测量和分析。		3D 测量的多样性 测量屏幕上绘制的任何直线或曲线的横截面轮廓的高度、尺寸、形状、角度和 R 值。		先进的 3D 成像 可以用鼠标改变 3D 图像的观察角度

激光显微系统应用 学习更多...
半导体/电子零件 晶片后面粗糙度测量 (1000 倍)		显示 滤色镜粗糙度测量 (1000 倍)		运输/金属 转向零件粗糙度测量 (400 倍 / 组合两幅图像)		精度/化学品 显微系统头 R 值测量 (1000 倍)

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