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VK-X100/X200 系列 形状测量激光显微系统
支持和服务
产品特性

解决问题

激光扫描显微系统可以解决所有的课题

关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。

使用激光显微系统则可全部简单地实现



光学显微镜
光学显微镜
提升倍率后,难以对焦,分辨率不足。
SEM
SEM
前处理或样本尺寸等的准备烦琐,仅能以黑白色进行观察。
粗糙度仪
粗糙度仪
不能够实现一边放大观察,一边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。
使用激光显微系统则可全部简单地实现

 
光学显微镜



有限的分辨率和放大倍数
有限的分辨率和放大倍数
光盘坑 (6000 倍)
景深浅
景深浅
刀尖 (1000 倍)
不支持可追溯性
不支持可追溯性
 
高分辨率,大景深观察



高分辨率, 最大放大24000 倍
高分辨率, 最大放大24000 倍
光盘坑(6000 倍)
完全聚焦的清晰图像
完全聚焦的清晰图像
刀尖(1000 倍)
符合溯源性要求
符合溯源性要求
使用 VK 系列获得的测量结果是高度可靠的测量数据,并且符合国家标准溯源性。
 
SEM



颜色不能确定,因为图像是黑色和白色
颜色不能确定,因为图像是黑色和白色
墨粉 (1000 倍)
准备与观察需要大量时间
准备与观察需要大量时间
样本大小是受限制的
样本大小是受限制的
由于受到样本的大小或者样本不适合在样品室等原因的影响,观察有时是不可能的。
 
仿佛彩色 SEM



16 bit 激光彩色观察
16 bit 激光彩色观察
墨粉(1000 倍)
放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分
放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分
各种样品的测量
各种样品的测量
可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。
 
粗糙度仪



由于接触探针造成样本刮伤
由于接触探针造成样本刮伤
铝表面(200 倍)
在屏幕上水平凹槽。
难以测量目标
难以测量目标
用触笔击中目标的理想位置可能会产生一些问题,例如目标为螺纹顶。
分辨率受限于触笔尖端直径
分辨率受限于触笔尖端直径
无法测量粗糙度小于测量仪器的触笔尖端的粗糙度的表面。
 
无损轮廓和粗糙度测量
 
 
 
 
 
 
支持和服务
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相关信息
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新!数码显微系统与光学显微镜  
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查看我们的数码显微系统可以解决的实际应用问题。
相关产品下载

数码显微系统

产品目录 说明书 技术指南 CAD数据 3D CAD数据
数码显微系统 VHX-2000 系列 全新
16 bit 分辨率显微系统 VHX-1000 系列
使用方便的高速度3D观察 (停产) VHX-600 系列
形状测量激光显微系统 VK-X100/X200 系列 全新
3D 激光扫描显微系统 (停产) VK-9700 系列
感知瞬间 VW-9000 系列 全新
动态分析三维显微系统 VW-6000 系列
高倍率观察不受设置环境影响 VE-9800 系列
3D 高清晰度电子显微系统 VE-8800 系列
数码显微系统 (停产) VH-8000 系列
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