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| 产品索引 |
在一次闪烁中测量高度/宽度 |
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可在8个点上同时进行测量。 |
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E3-CMOS 影像传感器提供稳定的测量 |
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Quatro连接系统可实现同类中最高的取样速度，达到3.8ms。 |
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3.8ms的高速取样速度，F.S.的0.1％的高精度 |
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简单设置菜单 (同类最快) |
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| LJ-G系列可在X及Z方向上精确测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。 |
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| 请使用上部的下拉式服务菜单查看本产品的详细内容。 |
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| LJ-G系列可以2D形式高速精确的截取表面轮廓。可在线测量／判定各种物体，并确保操作简单有效。LJ-G系列均内建尖端技术。 |
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| 广泛用于各个行业。Keyence 的二维激光位移传感器可以满足任何应用需要。 |
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| 相关产品下载 |
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激光位移传感器
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| 高速度、高精度CCD激光位移传感器 |
LK-G 系列
全新
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| 产品目录和说明书同时包括传感头和控制器的信息。 |
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