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LK-G 系列 CCD激光位移传感器
支持和服务
钢铁加工业更经济的,100%可靠的测量
非接触式测量传感器减少了废料,提供了100%的检测
产品特性

ABLE 功能实现了对所有物体的准确测量

表面技术和全新的测量算法

请使用上部的下拉式服务菜单查看本产品的详细内容。

测量漫射、透明和半透明物体。

测量多重反射物体已不再是问题
传统激光位移传感器在测量透明和半透明物体以及会发生多重反射的物体时非常不稳定,但由于有了ABLE表面技术和全新的测量算法,现在对这些物体的高精度测量不再是梦想。
ABLE 功能实现了对所有物体的准确测量

ABLE※

通过感测表面情况将激光强度控制到最佳状态。
ABLE技术能够感测物体表面并将激光强度调整到最佳状态。ABLE可以对激光发射时间、激光功率以及增益(CCD放大系数)这三种要素进行智能控制,实现了传统型号90倍的光强度调整范围。此外,它通过高性能CPU进行实时控制,使速度达到传统型号的120倍。因此,即使物体表面状态变化无常也能进行精确的检测。
※ABLE= 活动平衡激光控制引擎
激光发射时间和激光功率对不同物体的变化

RPD※ 算法

以极高的精度测量半透明塑料物体的表面。
RPD 算法可以消除由进入物体的漫反射激光产生的接收光波形的逐步扩大,随后准确地检测真实峰值的位置(实际峰值)
※RPD =实际峰值检测。
RPD※ 算法

多重ABLE控制

使多个透明物体表面上的激光发射量达到最佳水准。
通过使透明物体各层的激光强度达到最佳并同步各层的波形,从而使得高精度测量能够不受任何传输因数或反射率的影响。
(专利申请中)
多重ABLE控制

MRC※ 算法

消除金属面的多重反射
多重反射会产生两个或更多的峰值,此时MRC算法会把这些波形与最新的接收光波形进行比较,然后决定一个与“正确波形”最为相似的波形。
(专利申请中)※MRC=多重反射消除
MRC※ 算法

宽光点光学系统

可根据目标物和应用需求进行选择
有两种直径的光点可供选择∶
※ 宽光点型的特色在于全新设计的圆柱形物镜,它可在刻有图案的表面上进行稳定的测量。
※ 小光点型的特色在于一个清晰的直径为30µm大小的光点,它适用于测量小物体。
根据您的应用需求选择最合适的类型
宽光点光学系统
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激光位移传感器

产品目录 说明书 技术指南 CAD数据 3D CAD数据
2D激光位移传感器 LJ-G 系列 全新
高速度、高精度CCD激光位移传感器 LK-G 系列 全新
高精确CCD激光位移传感器 LK 系列
類比感測器控制器 LC 系列
高精度激光型 LB-1000 系列
小型激光型 LB-70 系列
模拟信号控制器 RD 系列
产品目录和说明书同时包括传感头和控制器的信息。
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