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| 产品特性 |
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其它测量应用与功能 |
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| 请使用上部的下拉式服务菜单查看本产品的详细内容。 |
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测量透明薄膜的厚度 |
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| 使用非共聚焦显微镜时很难检测出焦点位置，但使用激光共聚焦扫描显微镜时透明·半透明物体也可以正确检测出其焦点位置，而且是实现非破坏性厚度测量。 |
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| 如果是透明目标物，发射的光线穿过正面的峰值 (焦点)，并探测后面的峰值 (焦点)。可以测量两个峰值位置的差异。(薄膜厚度) |
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图案宽度自动测量 |
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| 自动测量规则图案的宽度和高度，例如半导体、显示器或光学零件。自动测量图案宽度消除了因手动操作产生的误差，并缩短了测量时间。 |
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| 抗蚀图 (6000 倍) |
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柱状图 / 二进制 |
| 颜色、光强和测量的高低图像数据出现在柱状图中。可以测量与任意设置的极限相关的面积或面积比数据。此外，可以使用任意设置的阈值在二进制图像上进行各种测量。 |
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| 彩色 CCD (3000 倍) |
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| 柱状图显示 |
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| 二进制测量结果 |
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| 相关产品下载 |
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数码显微镜
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| 使用方便的高速度3D观察 |
VHX-600 系列
全新
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| 高倍率观察不受设置环境影响 |
VE-9800 系列
全新
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 询价 |
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