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使用激光显微系统则可全部简单地实现

VK-X系列是什么?

VK-X系列是一款兼具高观察力和测量力的共焦点激光显微系统。观察倍率超越传统光学显微镜、在空气中可实现接近SEM的高分辨率图像、测量力凌驾于粗糙度仪之上,以上特点凝聚在这1台设备之中。由于其优秀的使用体验及纳米级的测量能力,在2015年度的纳米技术评选中获奖,是一款业内顶尖的测量仪器。

01 与光学显微镜的差异

最高28800倍的高分辨率

可在远超光学显微镜的倍率下观察。此外,由于激光显微镜的特性,高倍率观察时焦点也不会模糊,视野更加清晰。

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02 与SEM(电子显微镜)的差异

16bit激光 彩色观察

可在空气中观察,无需进行真空处理、蒸镀等预处理步骤。还可以处理光学信息,在高分辨率的同时实现全彩观察。

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03 与SEM(电子显微镜)的差异

激光的光点直径 < 粗糙度仪的直径

测量光点直径仅为粗糙度仪触针的1/10。完全可以胜任亚微米级的测量工作。此外,还能进行区域整体扫描,从而实现支持ISO 25178的粗糙度测量。

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VK-X100/X200 系列 形状测量激光显微系统 产品目录 (简体中文)

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