中国

【显微镜】VK-X150/X250 系列 形状测量激光显微系统

非接触式3D测量系统,几乎可在任何材料上进行纳米级剖面、粗糙度与厚度测量。

  • [全新] 遵照国际规格 ISO 25178,可计算平面的各种参数的追加模块软件。
  • [全新] 数码显微系统观察
  • 16 bit 激光彩色观察
  • 倍率最大至28800倍
  • [广视野] WIDE-Scan
  • [简便] AI-Scan
  • 高分辨率,大景深观察
  • 仿佛彩色 SEM
  • 无损轮廓和粗糙度测量

推荐项目

VK-X250/X150/X120 形状测量激光显微系统 产品目录 (简体中文)

VK-X250/X150/X120 形状测量激光显微系统 产品目录 (简体中文)

  • [文件类型]PDF:4.17MB
  • [项目类型]Catalog
  • [语言]zh-CN

登录

电子邮件地址
登录密码

如果您没有帐户,请在下方注册。

用户注册

请完成以下这张简单的注册表单。完成表单后,请按页面底部的“提交”按钮。

  • * 为必填信息。
电子邮件地址 *
请设置密码 * 最少 7 个字符,不能包含空格
技术电子报
国家 *
*
*
公司名称 *
部门
*
城市 *
地址 *
邮政编码 *
电话 *