非接触式3D测量系统,几乎可在任何材料上进行纳米级剖面、粗糙度与厚度测量。
- [全新] 遵照国际规格 ISO 25178,可计算平面的各种参数的追加模块软件。
- [全新] 数码显微系统观察
- 16 bit 激光彩色观察
- 倍率最大至28800倍
- [广视野] WIDE-Scan
- [简便] AI-Scan
- 高分辨率,大景深观察
- 仿佛彩色 SEM
- 无损轮廓和粗糙度测量
推荐项目
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- VK-X 系列 形状测量激光显微系统 产品目录
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多种材料上均可进行非接触式轮廓测量与粗糙度测量
- [文件类型]PDF:6.18MB
- [项目类型]目录
- [语言]简体字
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