中国

自动测量和分析三维表面

无论对于何种材料,VK-X系列三维激光扫描共焦显微镜都能以非接触的检测形式,提供纳米级轮廓、粗糙度及薄膜厚度等数据,并指出哪些指标对评估至关重要。

  • 非接触测量

    测量轮廓、粗糙度及薄膜厚度并实现纳米级分辨率

  • 收集有关任何材料的数据

    无论材料如何,均可采集高分辨率的表面数据

  • 高角度检测

    测量弯曲或极度倾斜的物体并且噪点低

  • 高分辨率/
    高放大成像

    与基于白光的系统相比,短波长激光提供具有更多细节的更高分辨率图像

  • 自动分析和处理多个文件

    批量处理可确保测量结果之间的一致性和再现性,并减少分析时间

  • 使用简单

    无需样品处理或准备。软件通过操作指导用户,甚至会显示样品组之间的主要差异

  • 下载目录
    了解更多信息。

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