三角反射测距法
LK系列

LK系列

在用光学反射型测量仪器扫描目标物后,翘曲可通过任意三点的高度数据进行测量。LK-G系列提供超高速采样,扫描时也可进行稳定测量。

选择要点

  • 目标物选择不由透明度/不透明度或颜色决定
  • 可进行非接触式测量
  • 光斑小、速度快
LK-G5000系列
超高速 / 高精度CMOS激光位移传感器
LK-G5000系列